PCT磁性材料老化試驗箱-高壓蒸煮儀-高壓老化箱

產(chǎn)品描述

PCT老化箱（又名PCT高壓加速老化試驗機）主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

PCT老化箱內(nèi)膽采用圓弧設計,復合容器標準,可以防止試驗結露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。

配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架,也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸免費量身定制專用產(chǎn)品架。

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